近日,全球最大的統(tǒng)計(jì)學(xué)軟件集團(tuán)SAS公司JMP事業(yè)部在公司全球總部,美國北卡羅來納州著名的研究三角園區(qū),舉行了為期一周的2010年度發(fā)現(xiàn)峰會(huì)(Discovery Summit 2010)暨JMP全球用戶大會(huì)。
大會(huì)的主要內(nèi)容包括主題報(bào)告、發(fā)現(xiàn)論壇、方法培訓(xùn)、招待晚宴等多種豐富的內(nèi)容和形式。來自美國、加拿大、英國、德國、日本、中國等十幾個(gè)國家和地區(qū)的三百多名JMP用戶代表和愛好者參加了此次盛會(huì),共同聆聽了業(yè)界大師的獨(dú)到見解和最新理念,感受和分享了半導(dǎo)體、生物醫(yī)藥、化工、食品等諸多行業(yè)的最佳實(shí)踐和數(shù)據(jù)發(fā)現(xiàn)的感觸,向JMP資深研發(fā)人員當(dāng)面請(qǐng)教技術(shù)問題,向JMP專業(yè)培訓(xùn)師學(xué)習(xí)先進(jìn)的統(tǒng)計(jì)分析方法和JMP軟件應(yīng)用技巧。
大會(huì)的重頭戲是近四十個(gè)精彩紛呈、內(nèi)容各異的主題報(bào)告。在主會(huì)場(chǎng)的全體報(bào)告中,最吸引人的莫過于SAS公司創(chuàng)始人之一,現(xiàn)任SAS公司全球副總裁,被譽(yù)為JMP之父的John Sall先生所作的主題報(bào)告The Struggle for Discoveries That Hold Up。John說道,現(xiàn)代社會(huì)中充斥著日益增多的數(shù)據(jù)和信息,但人們卻對(duì)它們背后所蘊(yùn)藏的真實(shí)含義知之甚少。有些人花費(fèi)了大量的時(shí)間進(jìn)行數(shù)據(jù)整理和分析,但由于專業(yè)工具的復(fù)雜、統(tǒng)計(jì)方法的誤用和濫用、主觀偏見的存在等種種原因,依然會(huì)頻繁地做出表面上正確、實(shí)際上錯(cuò)誤的業(yè)務(wù)決策。這些需求促使我們不遺余力地去開發(fā)創(chuàng)新型的產(chǎn)品工具,幫助用戶方便地發(fā)現(xiàn)真正有價(jià)值的東西。
已經(jīng)于10月22日正式發(fā)布的JMP最新版本JMP9就是凝聚了John Sall及其領(lǐng)導(dǎo)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)一年多來心血的結(jié)晶?,F(xiàn)在,JMP的拓展性更強(qiáng)了,它可以整合并放大用戶所喜歡的其他軟件(如SAS,Excel,R等)的功效。最受企業(yè)推崇的可視化數(shù)據(jù)分析的應(yīng)用領(lǐng)域也擴(kuò)大了,它既能繪制商業(yè)分析師所喜歡的地域信息,又能繪制半導(dǎo)體工程師所需要的晶圓圖。此外,在其傳統(tǒng)的質(zhì)量管理和六西格瑪領(lǐng)域,JMP又新添了很多新功能,其試驗(yàn)設(shè)計(jì)DOE平臺(tái)繼續(xù)領(lǐng)先業(yè)界同行,可靠性和退化分析(Reliability & Degradation)分析平臺(tái)能幫助客戶分析產(chǎn)品隨時(shí)間老化的數(shù)據(jù),進(jìn)而預(yù)測(cè)產(chǎn)品質(zhì)量和保修風(fēng)險(xiǎn)。
在用戶案例專題報(bào)告中,來自不同行業(yè)的JMP用戶成了會(huì)議的主角。例如,默克(Merck)制藥公司的高級(jí)工程師Julia Neill的報(bào)告題目為Data Mining for Vaccine Manufacturing。眾所周知,疫苗生產(chǎn)是一個(gè)復(fù)雜的、時(shí)間跨度為幾個(gè)月甚至幾年的生物過程。雖然最終的疫苗產(chǎn)品質(zhì)量得到了嚴(yán)格的控制,但是如何在大量的半成品中發(fā)現(xiàn)關(guān)鍵的變異源對(duì)質(zhì)量管理人員來說一直是一個(gè)巨大的挑戰(zhàn)。Julia介紹了默克公司的一支由工程師、科學(xué)家和統(tǒng)計(jì)學(xué)家共同組成的團(tuán)隊(duì)如何運(yùn)用JMP軟件中的CUSUM控制圖、偏最小二乘法回歸、預(yù)測(cè)刻畫器等可視化分析工具有效地開展變異源調(diào)查的成功故事。
又例如,飛思卡爾(Freescale)半導(dǎo)體公司的工程數(shù)據(jù)分析專家Jim Nelson的報(bào)告題目為Identification of Rogue Tools and Process Stage Drift by using JMP Software Visualization and Analytical Techniques。半導(dǎo)體芯片的制造是由幾百個(gè)要求精度很高的工藝步驟組成,涉及到幾百臺(tái)精密儀器和設(shè)備。尋找流程偏移和成品率下滑的原因始終是令技術(shù)部門頭痛的一件大事。Jim分享了飛思卡爾基于JSL(JMP腳本語言)開發(fā)的一套方法與程序,其中有序地整合了多個(gè)JMP軟件的成熟分析平臺(tái)(如圖形Graph、決策樹Decision Tree等等),它可以幫助工程師結(jié)合自身的工作經(jīng)驗(yàn),通過可視化的方式發(fā)現(xiàn)問題的關(guān)鍵所在,大幅縮小流程偏移,提升成品率。
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